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inTEST 安全芯片高低温冲击测试

价格:面议浏览:168次联系:张婷婷 / 15021001340 / 0755-25473928企业:伯东贸易(深圳)有限公司留言店铺收藏

inTEST 安全芯片高低温冲击测试

inTEST 安全芯片高低温冲击测试
上海伯东美国 inTEST 冷热冲击机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等测试机联用, 进行安全芯片的高低温冲击测试. 实时监测安全芯片的真实温度,可随时调整冲击气流, 对测试机平台 load board 上的安全芯片进行快速温度循环冲击, 传统高低温箱无法针对此类测试.
安全芯片多用于银行卡, 门禁卡及物联网中, 由于受到工作空间狭小, 芯片接触面积小, 空气流通环境差, 散热的条件不好等影响,芯片表面可能会经历快速升温, 并且需要在高温的环境中长时间工作; 同时实验室也会搜集一些芯片的高低温运行的数据做留存资料.所以测试安全芯片在快速变温过程中的稳定性十分必要.
上海伯东安全芯片高低温测试客户案例:某半导体公司,安全芯片测试温度要求 ﹣40℃~105℃, 选用 InTEST ATS-545 与泰瑞达测试机联用, 对安全芯片进行快速冷热冲击, 设置 12组不同形式的循环温度设定,快速得到完整精确的数据.

示意图

inTEST 安全芯片高低温冲击测试
inTEST ThermoStream ATS-545 技术参数:

型号

温度范围 ?C

* 变温速率

输出气流量

温度
精度

温度显示
分辨率

温度
传感器

ATS-545

-75 至 225(50 HZ)
-80 至 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷却

-55至 125?C
约 10 S 或更少
125至 -55?C
约 10 S 或更少

4 至 18 scfm
1.9至 8.5 l/s

?1℃
通过美国NIST 校准

?0.1℃

T或K型
热电偶


若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :

上海伯东 : 罗先生                               台湾伯东 : 王小姐
T: 86-21-5046-1322                   T: 886-3-567-9508 ext 161
F: 86-21-5046-1490                        F: 886-3-567-0049
M: 86 152-0195-1076                     M: 886-939-653-958
www.hakuto-china.cn                    www.hakuto-vacuum.com.tw

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