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inTEST 搭配 Keysight 进行功率器件温度测试
上海伯东美国 inTEST 热测产品搭配 Keysight 机台, 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 温度测试解决方案. Keysight 机台完美兼容 inTEST 软件, 操作简单.

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功率器件温度测试案例一:
inTEST Thermal Plate 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室温至 250℃ 温度测试.

通用软件, 操作简单, 只需将待测器件放置在 Thermal Plate 上即可.

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功率器件温度测试案例二:
inTEST ThermalStream 高低温冲击测试机搭配 B150XA 系统, 提供 -50℃~250℃ 的温度测试环境.
测试时, 只需将待测功率器件放置在高低温测试机测试罩内即可. 如果未连接测试腔, 则测试器件可能会因热空气或冷凝水而损坏. 连接到测试设备和 Thermostream 的热防护罩解决了这个问题, 可进行准确. 可靠和可重复的温度特性测试.

inTEST ThermalStream 高低温冲击测试机搭配 Keysight B150XA 系统评估 -50?C 至 250?C 温度范围内的功率器件特性, 是半导体器件制造商中比较通用的测试手段, 只要将热流罩放置于测试腔之上, 就可以在开放环境中快速进行检测.

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