光学测量仪器和光学设备测试系统
可进行相干测量的光频谱分析仪
■相干测量
■1.5 秒/扫描的高速测量
■波长范围宽,从 0.35 微米到 1.75 微米
■波长测量精度为 0.1 纳米
Q8344A 是一款光学光谱分析仪,波长范围宽达 0.35 至 1.75 ?m。
通过使用迈克尔逊干涉仪的傅立叶光谱系统,可以分析使用单色器的分散光谱系统无法获得的相干性。
它展示了评估光盘和视频磁盘激光二极管的能力。
光学测量仪器和光学设备测试系统内置 He-Ne 激光器用作参考波长,波长精度为 ? 0.1 nm (1.3 ?m),即使不进行波长校准,也能确保长期测量的稳定性。
Q8344A 的最大波长分辨率为 0.05 nm(0.85 ?m),适合测量模式间隔较窄的激光二极管。
测量速度约为 1.5 秒(0.4 至 1.05 ?m 和 0.8 至 1.75 ?m),与分析跨度无关,因此可作为系统组件使用。
Q8344A 具有多功能显示、分析和处理功能,可用于各种元件的特性测量应用,从激光二极管和 LED 等发光元件到光纤和滤波器等光学元件。
相干测量
由于 Q8344A 使用迈克尔逊干涉仪,因此可用于相干性测量。通过这一功能,可以轻松评估视频磁盘激光二极管回光引起的噪声抑制性能。
分析范围约为?10 毫米,可以测量光纤陀螺使用的 SLD(超级发光二极管)的相干长度。
1.5 秒/扫描的高速测量
非常适合生产应用
Q8344A 采用傅立叶光谱系统,因此无论测量跨度和灵敏度如何,都能在 1.5 秒内完成测量(前提是起始波长为 0.4 ?m 或更长,且测量不同时覆盖短波长和长波长)。
因此,该分析仪适用于在生产线上测量激光二极管和发光二极管。此外,还可用于评估光纤和滤波器的传输和损耗特性。
作为系统组件使用时,分析仪只需 1.5 秒即可完成触发、测量和数据输出,极大地提高了系统吞吐量。
波长测量精度为 ? 0.1 nm
使用内置 He-Ne 激光器作为参考光源,测量波长精度高达 ? 0.1 nm(波长为 1.3 ?m)。
因此,无需波长校准即可进行精确的波长测量。
最大波长范围为 0.05 nm
Q8344A 在短波长(0.85 ?m)时的最大分辨率为 0.05 nm,因此可以通过逐个完全解析振荡模式来测量 CD 和可见光激光二极管。
大口径光纤输入(选件)
可选配 200 ?m 大口径输入。在分析波长大于标准光纤口径(GI 50 ?m)的设备时,需要使用该选件。
对于激光二极管分析,建议使用标准 50 ?m 规格,而对于 LED 分析,建议使用此选配规格。
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