产品

●高速、高精度测量 LD

●高速测量选项： 0.5 s

●窄相干测量分辨率：0.001 毫米

●十倍以上的高波长精度：?0.01 nm（选件）

●高波长分辨率选项： 0.01 nm，波长 650 nm

●测量波长范围广： 350 纳米至 1000 纳米

●小巧轻便的平台

高通量能力

Q8341 是一款用于可见辐射的光学频谱分析仪，波长范围为 350 nm 至 1000 nm。

Q8341 采用带有迈克尔逊干涉仪的傅立叶光谱系统，因此可以测量相干性。

Q8341 的窄波长分辨率为 0.01 nm，不仅对 CD/DVD 激光二极管，而且对蓝紫色激光二极管的评估都非常有效。

此外，内置的 He-Ne 激光器可作为波长基准，确保 ?0.01nm 的高波长测量精度。

最后，Q8341 具有 0.5 秒*的快速测量速度，是评估系统元件温度特性的理想之选。

●相干测量分辨率： 0.001 毫米

●波长分辨率（650 纳米）： 

0.05 nm（标准），0.01 nm（选件） 

峰值波长的测量分辨率为 0.001 nm

●波长测量精度： 

?0.05 nm（标准），?0.01 nm（选件）

●最大输入电平：?10 dBm

●最大 相干测量长度： 

约 10 毫米（标准），约 40 毫米（选件）

●波长测量范围 350 至 1000 纳米

●体积小、重量轻

测量原理

Q8341 采用迈克尔逊干涉仪。在这种安排中，来自被测设备的光被分割成两条路径（在两条路径之间产生干涉）。

由此产生干涉图。横轴表示两条光路的长度差（即时间或相位）。而纵轴则表示干涉光强度。

这就是被测设备的自相关性。对该函数进行 FFT 处理，就能得到功率谱。为此，我们使用 He-Ne 激光器作为波长参考源。

特点

高速测量选项： 0.5 s. 

制造/生产环境的理想之选 Q8341 可在约 0.5 秒内测量整个跨度。这一特性使 Q8341 成为激光和发光二极管生产线的理想之选。

此外，这种快速测量速度也非常适合高产能环境。

出色的相干分析长度

分析长度 最大约 40 毫米（选件）

最大约 10 毫米（标准）

最大长度分辨率 0.001 毫米 

Q8341 还能评估光盘激光二极管的相干性。Q8341 分析长度长达 40 毫米，分辨率窄至 0.001 毫米，最适合评估蓝紫色激光二极管和其他紧凑型光学元件。

高波长精度

波长精度：?0.01 nm（选配），?0.05 nm（标准）

Q8341 内置 Ne-He 激光参考光源，可实现高波长精度的光谱测量。

窄分辨率测量蓝紫色激光二极管的振荡模式

波长分辨率（650 nm 时）： 

0.01 nm（选配）

0.05 nm（标准）

Q8341 具有窄分辨率，可分离蓝紫色激光二极管的振荡模式。此外，峰值波长的测量分辨率为 0.001 nm，非常适合监测受 DUT 环境影响的测量结果。

用于高通量测量

Q8341 采用大容量内存和高性能计算单元，可快速存储数据。然后，计算单元对这些数据进行计算，以显示指定的波长和跨度。

例如，如果 Q8341 要分析两个波长范围（650 nm ?50 nm 和 780 nm ?50 nm）的光谱，则只需改变其显示范围即可执行两个不同 LD 的光谱分析。

所有这些都无需重新配置系统即可完成。因此，Q8341 缩短了批量生产系统使用的索引时间。