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固体表面体积电阻率测量仪

价格:20650元浏览:79次联系:刘元元 / 15132636097 / 企业:北京北广精仪仪器设备有限公司留言店铺收藏

固体表面体积电阻率测量仪  试样处置

电极之间或测量电极与大地之间的杂散电流对于测试仪器的读数没有明显的影响这一点很重要。测试时加电极到试样上和安放试样时均要极为小心,以免可能产生对测试结果有不良影响的杂散电流通道。

测量表面电阻时,不要清洗表面,除非另有协议或规定。除了同二材料的另一个试样的未被触模过的表面可触及被测试样外,表面被测部分不应被任何东西触及。

固体表面体积电阻率测量仪  试样

1体积电阻率

为测定体积电阻率,试样的形状不限,只要能允许使用第三电极来抵消表面效应引起的误差即可。对于表面泄漏可忽略不计的试样,测量体积电阻时可去掉保护,只要己证明去掉保护对结果的影响可忽略不计。

在被保护电极与保护电极之间的试样表面上的间隙要有均匀的宽度,并且在表面泄漏不致于引起测量误差的条件下间隙应尽可能的窄。lmm的间隙通常为切实可行的 小间隙。

图2及图3给出了三电极装置的例子。在测量体积电阻时,电极1是被保护电极,电极2为保护电 极,电极3为不保护电极。被保护电极的直径d1(图2)或长度l1(图3)应至少为试样厚度h的10倍,通 常至少为25mm。不保护电极的直径d4(或长度[4)和保护电极的外直径d3(或保护电极两外边缘之间 的长度[3)应该等于保护电极的内径d2(或保护电极两内边缘之间的长度lz)加上至少2倍的试样厚度。

2表面电阻率

为测定表面电阻率,试样的形状不限,只要允许使用第三电极来抵消体积效应引起的误差即可。推荐使用图2及图3所示的三电极装置。用电极1作为被保护电极,电极3作为保护电极,电极2作为不 保护电极。可直接测量电极1和2之间表面间隙的电阻。这样测得的电阻包括了电极1和2之间的表面电阻和这两个电极间的体积电阻。然而,对于很宽范围的环境条件和材料性能,当电极尺寸合适时, 体积电阻的影响可忽略不计。为此,对于图2和图3所示的装置,电极的间隙宽度g至少应为试样厚度 的2倍,一般说来,1mm为切实可行的 小间隙。被保护电极尺寸d1(或长度l1)应至少为试样厚度h的10倍,通常至少为25mm。

也可以使用条形电极或具有合适尺寸的其他装置。

注:由于通过试样内层的电流的影响,表面电阻率的计算值与试样和电极的尺寸有很大的关系,因此,为了测定时可进行比较,推荐使用与图2所示的电极装置的尺寸相一致的试样,其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm

条件处理

试样的处理条件取决于被试材料,这些条件应在材料规范中规定。

推荐按GB/T 10580一2003进行条件处理;由各种盐溶液所产生的相对温度在IEC 60260中给出。

可以采用机械蒸发系统。

体积电阻率和表面电阻率都对温度变化特别敏感。这种变化是指数式的。因此必须在规定的条件下来测量试样的体积电阻和表面电阻。由于水分被吸收到电介质内是相对缓慢的过程,因此测定温度对体积电阻率的影响需要延长处理期。吸收水分后通常会降低体积电阻。有些试样可能需要处理数月才能达到平衡。

体积电阻

在测试以前应使试样具有电介质稳定状态。为此,通过测量装置将试样的测量电极1和3短路 (图la)),逐步增加电流测量装置的灵敏度到符合要求,同时观察短路电流的变化,如此继续到短路电 流达到相当恒定的值为止,此值应小于电化电流的稳定值,或者小于电化100min的电流。由于短路电 流有可能改变方向,因此即使电流为零,也要维持短路状态到需要的时间。当短路电流Io变得基本恒 定时(可能需要几小时),记下Io的值和方向。

然后加上规定的直流电压井同时开始记时。除非另有规定,在如下每个电化时间作一次测量:1 min、2min、5min、10min、50min、100min。如果连续两次测量得出同样的结果,责可以结束试验并用这个电流值来计算体积电阻。记录次观察到相同测量结果时的电化时间。如果在100min内不 能达到稳定状态,则记录体积电阻与电化时间的函数关系。

作为验收试验,按照有关规范的规定,使用一个固定的电化时间如lmin后的电流值来计算体积电阻率。

重要性和用途:

1绝缘材料用于电子系统彼此和与地面之间隔离,该材料能提供零部件的机械支撑。由于此用途,通常要求具有尽可能高的绝缘电阻,以与可接受的机械、化学和耐热性能一致。因为绝缘电阻或电导组合了体积和表面电阻或电导,当实际使用时,要求试验样本和电极具有相同的形式,此时的测量值是非常有用的。表面电阻或电导随着湿度发生快速变化,然而体积电阻或电导则稍微变化,尽管总的变化在一些变化可能更大。

2电阻或电导可用于间接预测某些材料的低频率电介质击穿和损耗因数性能。电阻或电导通常作为湿度含量,固化程度,机械连续性或不同类型老化的间接测量方式。这些间接测量的效用取决于通过理论或经验研究确立的相关度。表面电阻的降低可导致因为电场强度降低而发生电介质击穿电压的增加,或者由于应力面积的增加而发生电介质击穿电压的降低。

3所有的电介质电阻或电导都取决于电化时间长短和施加的电压值(除了普通的环境变量之外)。这些因素必须已知,同时报告,以使得电阻或电导测量值有意义。在电绝缘材料工业中,形容词“表观”通常适用于在任意选择电化时间条件下获得的电阻值。见X1.4。

4体积电阻或电导可通过在特定应用场合设计某个绝缘体使用的电阻和尺寸数据计算得出。研究已经表明电阻或电导随着温度和湿度的变化而变化(1,2,3,4)4,同时在设计工作条件时,必须已知这种变化。体积电阻或电导测量值通常用于检查绝缘材料的均匀性,或者对于加工,可探测影响材料质量的导电杂质,而这不容易通过其它方法观察到。

5体积电阻超过1021Ω?cm(1019Ω?cm)时,样本在普通实验室条件测试获得的数值计算得出体积电阻,如果结果确实可疑,则应考虑通常使用的测量设备的局限性。

6表面电阻或电导不能精确测量,只能近似测量,因为体积电阻或电导总是受到测量方法的影响。测量值还受到表面污染的影响。表面污染及其积聚速度受到许多因素的影响,包括静电充电和界面张力。这些因素反过来可以影响表面电阻。当包括污染,但是在通常常识下判断不是电绝缘材料的材料性能时,此时表面电阻或电导可视为与材料性能相关。

试样处置

电极之间或测量电极与大地之间的杂散电流对于测试仪器的读数没有明显的影响这一点很重要。测试时加电极到试样上和安放试样时均要极为小心,以免可能产生对测试结果有不良影响的杂散电流通道。

测量表面电阻时,不要清洗表面,除非另有协议或规定。除了同二材料的另一个试样的未被触模过的表面可触及被测试样外,表面被测部分不应被任何东西触及。

试验程序

试样按本标准第7章、第8章、第9章、第10章进行准备。

测量试样及电极的尺寸、表面间隙的宽度g(两电极之间距离),}lj士1%。然而,如有必要,对薄试样可在有关的规范中规定不同的度。

为测定体积电阻率,应按照有关的规范测量每个试样的平均厚度,其厚度测量点应均匀地分布在由被保护电极所覆盖的整个面积上。

注:对于薄试样无论如何在加上电极前测量厚度。

一般说来,应与条件处理时相同的湿度(漫在液体中的条件处理除外)和温度下测试电阻。但有时也可在停止条件处理后的规定时间内进行测量。

方法

测量高电阻常用的方法是直接法或比较法。

直接法是测量加在试样上的直流电压和流过它的电流(伏安法)而求得未知电阻。

比较法是确定电桥线路中试样未知电阻与电阻器已知电阻之间的比值,或是在固定电压下比较通过这两种电阻的电流。

附录A给出了描述这些原理的例子。

伏安法需要一适当精度的伏特表,但该方法的灵敏度和度主要取决于电流测量装置的性能,该装置可以是一个检流计或电子放大器或静电计。

电桥法只需要一灵敏的电流检测器作为零点指示器,测量度主要取决于已知的桥臂电阻器,这些桥臂电阻应在宽的电阻值范围内具有高的精密度和稳定性。

电流比较法的度取决于已知电阻器的度和电流测量装置,包括与它相连的测量电阻器的稳定度和线性度。只要电压是恒定的,电流的确切数值并不重要。

对于不大于1011Ω的电阻,可以按照11.1用检流计采用伏特计一安培计法来测定其体积电阻率。 对于较高的电阻,则推荐使用直流放大器或静电计。

在电桥法中,不可能直接测量短路试样中的电流(见11.1)。

利用电流测量装置的方法可以自动记录电流,以简化稳态测试过程(见11.1)。

现己有测量高电阻的一些专门的线路和仪器。只要它们有足够的度和稳定度,且在需要时能使试样短路并在电化前测量电流者,均可使用。

体积电阻volume resistance

在试样两相对表面上放置的两电极间所加直流电压与流过这两个电极之间的稳态电流之商,不包括沿试样表面的电流,在两电极上可能形成的极化忽略不计。

注:除非另有规定,体积电阻是在电化一分钟后测定。

本仪器既可测量超高电阻,又可测极微弱电流。采用了大规模集成电路技术,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以数字液晶显示电阻并同时直接显示流过被测电阻的电流。电阻量程从1?104Ω ~1?1018Ω, 电流测量范围 为2?10-4A~1?10-16A。机内测试电压为DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便,适用于防静电产品 如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外,还能直接测量电流如电子器件暗电流等。

典型应用

 

1、测量绝缘材料电阻(率)

 

2、测量防静电材料的电阻及电阻率

 

3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值

 

4、测量防静电鞋、导电鞋的电阻值

 

5、光电二极管暗电流测量

 

6、物理,光学和材料研究

技术指标

 

1.   电阻测量范围:1?104Ω ~1?1018Ω,分为十个量程。

 

2.   电流测量范围为2?10-4A~1?10-16A

 

3.   全数字液晶屏显示。

 

4.   准确度:准确度优于下表

 

量程有效显示范围20~30℃RH<80%

 

104 0.01~19.99 5%

 

105 0.01~19.99 5%

 

106 0.01~19.99 5%

 

107 0.01~19.99 5%

 

108 0.01~19.99 5%

 

109 0.01~19.99 5%

 

1010    0.01~19.99 5% 2字

 

1011     0.01~19.99 5% 2字

 

1012 0.01~19.99 5% 5字

 

1013 0.01~19.99 10% 5字

 

1014 0.01~19.99 10% 5字

 

1014以上0.01~19.99 10-15% 5字

 

超出有效显示范围时误差有可能增加,测试电流准确度与电阻相同,测试电压准确度为10%

 

5.使用环境:温度-10℃~50℃ 相对湿度<90%。

 

6.测试电压: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。?10%

 

7.供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约10W。

 

8.仪器尺寸: 300mm?280mm?150 mm。

 

9. 质量:约3.0KG。

 

所有立体图形外面的面积之和叫做它的表面积。如:

 

1、圆柱体表面积为:S=C底*h 2πR^2,S=2πR*h 2πR^2。

 

(“C底”为底面圆的周长,R为底面圆的半径)

 

2、棱柱体表面积:S=S侧 2*S底

 

3、圆柱体表面积(“U底”为底面圆的周长,R为底面圆的半径)

 

S=U底*h 2πR^2

 

S=2πR*h 2πR^2

 

4、棱锥体表面积(n为棱锥的斜棱条数,即侧面数)

 

S=n*S侧(三角形) S底

 

5、圆锥体表面积

 

S=S扇 S底

 

S=1/2*L(母线)*2πR πR^2

 

6、棱台体表面积(n为棱锥的棱条数,即侧面数)

 

S=n*S侧(梯) S上底 S下底

 

7、圆台体表面积

 

注:设r为上底半径,R为下底半径,L为圆台母线;虚设a为小扇形母线,则大扇形母线长为(a L)

 

S=S侧(扇环) S上底 S下底

 

S=π(r^2 R^2 rl Rl)=πr^2 πR^2 πrl πRl

 

8、球体表面积:S=4πR^2

 

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售后内容:

一、我公司派工程师负责安装调试及培训。

二、产品自客户验收之日起,免费保修2年,终身维修。

1、设备安装调试:

免费为用户提供所购仪器的安装调试服务。在进行安装调试前用户方应提供相应的准备工作,并予以提前通知,具体安装调试日期双方可以协商而定。设备安装调试由多年行业资深工程师免费进行。保证用户可以正确使用、软件操作和一般维护以及应及故障的处理。

2、培 训:

我公司工程师免费为用户提供操作人员培训,直到操作人员能独立操作为止。

3、设备验收标准:用户方按订货技术要求进行验收。并符合国家标准要求。设备验收在用户方进行并由我公司安装调试技术人员和用户共同在维修报告上签字以确认仪器的调试工作完成。

4、设备维修服务:

我公司产品自用户现场调试验收合格后1年内免费保修,终身维护。在1年免费保修期内产品发生非人为质量问题,我公司为客户提供免费维修。如产品在免费保修期外出现故障,维修服务只适当收取材料成本费。

5、技术支持:对于所需仪器的用户,根据用户的要求提供专业的技术方案。除了常规的仪器服务外,我公司技术部还可为用户提供各种非常规设备的技术支持。

6、售后响应:在接到用户维修邀请后,2小时内做出反应,并给予解决。如未解决,我公司指派工程师及时到达用户现场,解决问题至设备正常使用为止。

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