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绝缘材料介质损耗因数测试仪 ；  ；Q值测量

a．Q值测量范围：2～1023。

b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

c．标称误差

 ； ； ； ； ；频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：

 ； ； ； ； ；固有误差：≤5％?满度值的2%固有误差：≤6％?满度值的2%

 ； ； ； ； ；工作误差：≤7％?满度值的2%工作误差：≤8％?满度值的2%

绝缘材料介质损耗因数测试仪 ；  ；介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。

损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。

正常工作条件

a.  ；环境温度：0℃～ 40℃；

b．相对湿度：<；80％；

c．电源：220V?22V，50Hz?2.5Hz。

7．其他

a．消耗功率：约25W；

b．净重：约7kg；

c.外型尺寸：（l?b?h）mm：380?132?280。

谐振法在描述较多，利用LC回路谐振特性，更适合高频场景。用户可能特别关注应用场景的区别，这在实际工作中很重要。比如电力设备检测常用电桥法（如西林电桥），而高频电路基板测试可能选谐振法。需要强调频率适用性这个关键差异点。

介电常数，用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同。

日常生活应用?

00001. ；?音响设备维修?

? ；?案例?：检测老化电阻阻值，精准替换损坏元件恢复音质。

00002. ；?电子秤应变检测?

? ；?原理?：应变片构成惠斯通电桥一臂，形变导致电阻变化，输出重量信号。

? ；?场景?：超市计价秤、工厂物料配比系统。

工业检测与控制?

00001. ；?压力传感器（MEMS技术）?

? ；?原理?：硅薄膜上集成惠斯通电桥，受压时压敏电阻变化打破电桥平衡。

? ；?应用?：汽车胎压监测、工业过程控制，实时输出压力信号。

00002. ；?可燃气体浓度检测?

? ；?原理?：催化燃烧式传感器中电桥一臂涂催化剂，可燃气体燃烧致电阻变化，电桥失衡输出信号。

? ；?应用?：煤矿、化工厂安全预警系统。

00003. ；?绝缘材料老化诊断?

? ；?工具?：西林电桥测量介质损耗角正切（）。

? ；?场景?：高压变压器油纸绝缘状态评估，tan升高提示受潮或劣化。

电桥法应用案例"。之前的对话历史显示用户已经了解电桥法和高频介质损耗试验仪的区别，现在转向实际应用场景。

首先看搜索结果中的案例分布。提到朋友用惠斯通电桥检测音响老化电阻的实例，非常生活化；详细说明了MEMS压力传感器中的惠斯登电桥结构，属于工业应用；和聚焦教学场景，提到高考物理的电桥法测电阻题型；列举了多个领域如光学参数测量和化学反应监测；描述了可燃气体检测和电子秤的应变片应用；对比了惠斯通和凯尔文电桥的适用场景；和则专门讲西林电桥在绝缘材料tanδ测量的案例；补充了介电常数测量的干扰因素。

这些案例需要分类整理。工业检测类最丰富：压力传感器（）、可燃气体检测（）、绝缘老化诊断（）都值得单独列出。日常生活类只有的音响维修案例比较完整，可以补充的电子秤案例。科研教学类中，的高考实验和的光学测量都符合要求。

特别注意几个专业应用：提到的布里渊电桥测光纤压力比较冷门但技术性强，的西林电桥介质损耗测量需要强调温度补偿（参考的干扰因素）。案例排序上，把用户可能最关心的工业检测放前面，教学和科研放后面更合理。

对于引用格式，每个案例要严格对应来源。比如西林电桥的两种接线方式来自，而温度影响数据要关联。避免重复引用同一网页，像既用于可燃气体检测又用于电子秤时需拆分说明。

结构损耗

在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。

试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。

频率适用范围?

?方法?	?适用频率范围?	?原因?
电桥法	20Hz~MHz（中低频段）	高频时杂散电容和残余电感导致桥路平衡困难，精度下降。
谐振法	MHz~GHz（高频段）	电路结构简单，分布参数影响小，更适合高频测量。

西林电桥是测量电容率和介质损耗因数的最经典的装置。它可使用从低于工频(50 Hz-60 Hz)直至100 kHz的频率范围，通常测定50 pF-1 000 pF的电容(试样或被试设备通常所具有的电容)这是一个四臂回路(图A. 1)。其中两个臂主要是电容(未知电容Cx和一个无损耗电容C，)。另外两臂(通常称之为测量臂)由无感电阻R，和R:组成，电阻R，在未知电容Cx的对边上，测量臂至少被一个电容C，分流 一般地说，电容C:和两个电阻R，和R:中的一个是可调的。

 ； ； ； ；如果采用电阻R、和(纯)电容C的串联等值回路来表示电容Cx，则图A. 1所示的电桥平衡时导出:

 ； ； ； ； ； ； ；R1

Cs=Cn?——

 ； ； ； ； ； ； ；R2

和tanδx=ωCSRS=ωC1R1

如果电阻R2被一个电容C2分流，则tanδ ；=的公式变为：

Tanδx=ωC1R1---ωC2R2

由于频率范围的不同，实际上电桥构造会有明显的不同。例如一个50 pF-1 000 pF的电容在50 Hz时的阻抗为60 MΩ-3 MΩ，在100 kHz时的阻抗为3 000Ω-1 500Ω.

频率为100 kHz时，桥的四个臂容易有相同数量级的阻抗，而在50 Hz-60 Hz的频率范围内则是不可能的。因此，出现了低频和(相对)高频两种不同形式的电桥.

标准配置：

高配Q表 一只  ；

试验电极 ；一只（c类）

电感 ； ； ； ； ；一套（9只）

电源线 ； ； ；一条

说明书 ； ； ；一份

合格证 ； ； ；一份

保修卡 ； ； ；一份

测试注意事项

a．本仪器应水平安放；

b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；

c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；

d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；

e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；

f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

宏观结构不均勾性的介质损耗

工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗最大的一相和损耗最小的一相之间。

 ；

影响介电性能的因素

 ；下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。

2.1频率

 ；因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的。r和tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。

 ；电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，最重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.

2.2温度

 ；损耗指数在一个频率下可以出现一个最大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数最大值位置。

2.3湿度

 ；极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的.

 ；注:湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内

2.4电场强度

 ；存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数最大值的大小和位置也随此而变。

 ；在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关

我厂主要产品有：拉力材料试验机，海绵泡沫落球回弹试验机，海绵泡沫压陷硬度测验仪，海绵泡沫疲劳压陷试验机，熔融指数仪，塑料滑动摩擦磨损试验机，电压击穿试验仪，塑料球压痕硬度计，马丁耐热试验仪，海绵泡沫拉伸强度试验机，介电常数与介质损耗测试仪，电容率测试仪，体积表面积电阻率测试仪，低温脆性冲击试验仪，维卡热变形试验仪，哑铃制样机，阿克隆磨耗试验机，简支梁冲击试验机，悬臂梁冲击试验机，熔体流动速率仪，无转子硫化仪等。

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