产品

四探针?阻测试仪是运?四探针原理测量?块电阻的专?仪器，电阻率和电导率同时显?。仪器

测试范围0-10MΩ，最?分辨率0.1uΩ，电阻最?精度0.01%，精度2%。可?于测试半导体、?属涂层导电薄膜等材料的?阻和电阻率。

材料电导率测试仪是运用四探针测量原理测试试导体、半导体材料电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准。

四探针?阻测试仪  仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头和测试台等三部分组成。

主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。自动/手动量程可选；电阻率、方阻、电阻测试类别快捷切换：仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便可靠；具有零位、满度自校功能；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电锂电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

仪器具有测量范围宽、精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、外形美观、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

测试原理：

传统四探针方法的原理如图1所示,局限于I14 V 23单一状态,它要求探针间距相等,被测物较小

或探针在边界附近,需做几何测量继而进行边界修正,造成不便且有时难以保证准确度. 这种方法

只是普遍规律中的一个特例 ,并非四探针技术之全貌. 所谓双电测是指让电流先后通过不同的探针对,测量相应另外两针间电压,进行组合,按相关的公式求出电阻值. 这时几何影响消失,针距和边界的负面效应将不存在,四探针将实现“自我修正”,误差减小. 双电测法共有三种组合模式,即Mode1 、Mode2 、Mode3 ,见图2所示。

技术参数

1. 测量范围、分辨率（括号内为拓展量程，可定制）

电   阻：10.0?10-6 ～200.0?103  Ω,    分辨率1.0?10-6 ～0.1?103  Ω

         （1.0?10-6 ～20.00?103  Ω,    分辨率0.1?10-6 ～0.01?103 Ω）

电阻率：10.0?10-6 ～200.0?103 Ω-cm   分辨率1.0?10-6 ～0.1?103  Ω-cm

         （1.0?10-6 ～20.00?103 Ω-cm  分辨率0.1?10-6 ～ 0.01?103 Ω-cm）

方块电阻：50.0?10-6 ～1.0?106 Ω/□    分辨率5.0?10-6 ～0.5?103  Ω/□

         （5.0?10-6 ～100.0?103 Ω/□  分辨率0.5?10-6 ～0.1?103  Ω/□）

2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

直   径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限

SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm?180mm，手持方式不限.

长(高)度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.

四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。

特点：

●电阻最?精度：0.01%，最小分辨率0.1uΩ；

●方电阻精度：1%，最小分辨率：0.1uΩ；

●双电测原理，提?精度和稳定性；

●测试探头直排和矩形可选；

●标配RS232、LAN、IO、通讯接?；

●可配戴软件查看和记录测试数据；

数字电压表：

⑴量程： 20.00mV

⑵误差：?0.2%FSB?2LSB

⑶最大分辨力：1.0?V

显示: 4位数字显示，小数点自动显示

四探针探头、探针选型表

根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等材料的电阻率/方阻。

由于新型薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电流均不相同，因此公司可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头。

产品概要

BEST系列四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备。该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻的专用仪器。仪器运用双电测原理，进行多次测量，自动消减样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测相比，大大提高测量精度和一致性。

  仪器选配U盘数据记录接口，可方便的进行测试数据的记录；标配USB接口和RS232接口可与电脑相连接；电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作、并记录数据,方便对材料进行电气分析。仪器测量精度高、稳定性好、智能化程度高、操作简单、测试结果显示直观，广泛运用于半导体材料厂、科研单位、高等院校等对各种半导体、类半导体材料、导体材料及各种新材料的导电性能的测试。

适用范围：

适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻

关键词：半导电电阻率测试 半导电绝缘电阻率测试

北广精仪BEST-300C半导电电阻率测试仪成功中标比亚迪汽车有限公司，助力新能源汽车核心材料检测升级  

近日，北广精仪仪器设备有限公司（以下简称“北广精仪”）自主研发的BEST-300C半导电电阻率测试仪成功中标比亚迪汽车有限公司（以下简称“比亚迪”），成为比亚迪在电池材料、半导体组件及关键导电材料检测环节的重要设备供应商。此次合作标志着北广精仪在新能源行业检测技术领域的领先地位进一步巩固，同时也为比亚迪提升电池安全性与材料性能提供了强有力的技术支撑。  

精准检测，护航电池安全

在新能源汽车制造中，电池材料的导电性能直接影响电池的安全性、续航能力及使用寿命。比亚迪作为全球新能源汽车领域的领军企业，对电池及半导体材料的电阻率测试提出了极高要求。北广精仪BEST-300C半导电电阻率测试仪凭借高精度、高稳定性及智能化数据分析能力，成功通过比亚迪严格的设备选型测试，成为其供应链质量管控体系的重要一环。  

该设备将主要用于比亚迪动力电池正负极材料、隔膜、导电涂层等关键部件的电阻率检测，确保材料导电性能符合高标准要求，从而提升电池的一致性和安全性，助力比亚迪打造更可靠的新能源汽车产品。 

技术领先，赋能智能制造 

BEST-300C半导电电阻率测试仪采用四探针法测量技术，符合IEC 62660、GB/T 24525等行业标准，具备以下核心优势：  

高精度测量：测试范围覆盖10^-8~10^8 Ω?cm，分辨率达0.1%，满足半导体、新能源材料等多场景需求；  

智能化操作：配备触摸屏控制及数据自动存储功能，支持PC端数据分析，提升检测效率；   

稳定可靠：采用抗干扰设计，适应实验室及产线环境，确保长期稳定运行； 

定制化服务：可根据客户需求调整测试模式，兼容不同材料形态（薄膜、块体、粉末等）。 

北广精仪技术总监表示：BEST-300C的研发初衷正是为了解决新能源行业对材料导电性能的精准检测需求。此次与比亚迪的合作，是对我们技术实力的高度认可。我们将持续优化产品，为行业提供更先进的检测解决方案。  

深化合作，共拓新能源未来 

此次中标是北广精仪与比亚迪在检测设备领域的首次合作，也为双方未来在电池材料、半导体器件等领域的深度协作奠定了基础。北广精仪将持续聚焦新能源行业检测痛点，推动高精度、自动化检测技术的创新应用，助力比亚迪等领军企业实现更高效、更智能的质量管控。 

关于BEST-300C半导电电阻率测试仪  

该设备广泛应用于新能源汽车、半导体、电子材料等行业，适用于石墨烯、碳纳米管、锂电材料等半导电材料的电阻率测试，是研发与质量控制的关键工具。 

关于北广精仪仪器设备有限公司 

北广精仪是国内领先的精密检测仪器制造商，专注于材料电学、光学及力学性能测试技术的研发，为新能源、汽车、航空航天等领域提供高端检测设备与解决方案。 

关于比亚迪汽车有限公司

比亚迪是全球新能源汽车领导者，业务涵盖电动汽车、电池、储能及电子代工，以技术创新推动绿色出行发展。 

此次合作不仅彰显了北广精仪在材料检测领域的技术实力，也为新能源汽车产业链的高质量发展提供了重要支持。双方将携手探索更智能、更高效的检测技术，共同推动行业进步。