类型:反射式
分辨率测试卡(斜边ISO 12233:2014)简介
分辨率测试卡TE275设计用于使用斜边测量静态相机的分辨率。该测试卡在2014年2月发布的ISO标准12233的修订版中指定。
在TE268和TE253(正弦西门子星)和TE252(分辨率的视觉评估)旁边,斜边是ISO 12233标准中描述的用于分辨率测量的第三种模式。
分辨率测试卡TE275包含九个斜边结构,每个具有两个垂直和两个水平边缘,并且在中心具有聚焦辅助。倾斜边缘结构倾斜5?,并具有ISO 12233:2014要求的低对比度(调制在0.55和0.65之间)。背景根据ISO12233:2014提供0.15和0.25之间渐变。
斜边以一种方式布置,以在轴向信息上递送50%场位置(4:3纵横比)和70%场位置处的信息。
三个黑点可用于目标的自动检测。这种不对称布置的结构还有助于检查和校正目标的取向。
分辨率测试卡TE275可以使用框线和箭头用于4:3或3:2宽高比。
16个OECF色块的反射率和排列符合ISO 14524.通过对这些色块的分析,可以确定OECF并且线性化图像数据。
OECF色块、背景和斜边的参考:
Step | 参考密度 |
1 | 1.78 |
2 | 1.56 |
3 | 1.38 |
4 | 1.22 |
5 | 1.08 |
6 | 0.95 |
7 | 0.83 |
8 | 0.72 |
9 | 0.62 |
10 | 0.53 |
11 | 0.44 |
12 | 0.36 |
13 | 0.29 |
14 | 0.14 |
15 | 0.21 |
16 | 0.08 |
斜边 | 1.30 |
背景 | 0.70 |
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